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光學(xué)薄膜測量儀

簡要描述:GL-SPM-D2T光學(xué)薄膜測量儀——手機(jī)屏透過率檢測系統(tǒng)是能快速準(zhǔn)確地測量手機(jī)屏幕目的透光率以及各類平面光學(xué)元件的透射率,可用于實(shí)時在線檢測,實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢的儀器。

  • 產(chǎn)品型號:GL-SPM-D2T
  • 產(chǎn)       地:上海市
  • 更新時間:2024-08-20
  • 訪  問  量:2381
詳細(xì)介紹
品牌UNICO/尤尼柯應(yīng)用領(lǐng)域綜合
    GL-SPM-D2T光學(xué)薄膜測量儀?——手機(jī)屏透過率檢測系統(tǒng)是能快速準(zhǔn)確地測量手機(jī)屏幕目的透光率以及各類平面光學(xué)元件的透射率,可用于實(shí)時在線檢測,實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢的儀器。

    光學(xué)薄膜測量儀能快速準(zhǔn)確地測量各類平面光學(xué)元件的透射率,可用于實(shí)時在線檢測,實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于手機(jī)屏、手機(jī)膜、手機(jī)殼、眼鏡、太陽鏡、防曬保護(hù)膜的透光率測量,塑料制品的透光率測量,透明或半透明材料透光率測量/棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測。

    GL-SPM-D2T光學(xué)薄膜測量儀規(guī)格參數(shù):

項目 指標(biāo) 備注
波長范圍 190-800nm 取決于光柵
光譜分辨率 FWHM0.84@577μm狹縫 與波長和狹縫有關(guān)
雜散光 0.06%@532nm,0.045%@785 與波長有關(guān)
光源 20W鹵素?zé)?、氘?/span>  
積分時間 8ms-15min 與CDD有關(guān)
電源 220V@50Hz  
USB數(shù)據(jù)線 1.5m帶有USBmini-B接頭的數(shù)據(jù)線  
光譜儀自動配置 自動配置包括讀標(biāo)定參數(shù)  
數(shù)據(jù)輸出 灰度值隨波長或CCD像素變化(可選擇)  
尺寸 450mm*300mm*207mm  
重量 6.5KG  
工作溫度 0℃~45℃  

 


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